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随着模块比特率增加到 100Gbs 以上,模块的复杂性也随之增加。从基于 DSP 的信号调理和时钟恢复开始,再到可插拔相干光学、PAM-4 和 CMIS。面对这种新的复杂程度,我们不得不采取一种截然不同的方法来开发、调试和验证可插拔光学模块。具体地说,需要解决模块开发、调试和验证的三个关键领域:

  • 高速电口 – 高速 SERDES
  • 光口 – 激光器、光电二极管
  • 模块管理 – I^2C控制接口

在以往的实践中,这些领域中的每一个都会以某种孤立的方式进行调试和验证。信号完整性 (SI) 和硬件团队负责处理高速主机电口,光子工程师负责处理光口,而软件团队负责开发和调试模块微控制器。这种方法在 100G 以下运行良好。但现在可插拔相干和 400G PAM-4带有DSP以及其复杂性,所有这些领域都必须在紧密协调的情况下进行开发、调试和验证。

其核心是基于 DSP 的信号调理和固件。它影响光电和主机接口的行为 – 从模块如何响应光信号丢失到主机电口如何均衡 – 所有这些都与数字信号处理器紧密耦合。因此,需要一种完整的方法来成功调试 400G 之类可插拔模块。独立的 I^2C 调试器和台式 BERT 不是 行业400G的合适工具。

电口(应支持成帧和非成帧的智能 BERT)必须与模块管理 CMIS 类工具紧密结合。反过来,他们需要协调光学域事件和损伤,如 OSNR 和偏振加扰。

十多年来,VIAVI 一直处于可插拔光学器件测试和测量领域的领先地位,我们的 ONT 800GMAP 产品线提供集成的多域模块 T&M 工具,可用于 400G 及以上。我们的 TraCol 应用程序带来了毫秒级模块管理和控制,以及完整的主机电口和应用程序协调解决方案。它还可以支持光子损伤的紧密耦合,从而在所有领域提供完全控制和可见性。

关键要点:不要试图用上一代的基本工具来调试复杂的基于 DSP 的模块,在超过 100G 的情况下,统计比特位错误无济于事。将 ONT 集成方法与洞察力和明智的应用程序结合起来,与您的模块融为一体。这才是真正的禅道!

要开启自己的涅槃之路,请立即 联系 VIAVI 代表。

About The Author

Paul Brooks currently leads the strategy for the VIAVI Lab and Production business unit. After a career in the Royal Navy as a weapons officer he spent time in a variety of roles with the communications test and measurement industry with a particular interest in enabling the high-speed Ethernet ecosystem. He holds a PhD in opto-electronics from the University of Southampton and lives in Southern Germany.

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